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与传统的FIB系统相比拥有更高的微纳加工精度,更清晰的成像对比度和景深,其加工速度在低离子束流能量条件下有着更优异的表现。
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可通过产生的电量和热流来获得(电量是通过四探针法获得;热流是通过热流计获得)测量热电材料的产生的电量及热电转换效率η。
根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,今仍然是研究得较为广泛、成熟的残余应力分析和检测方法之一,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。
采用独有的X射线单色器设计,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,以超高灵敏度和光源质量,实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。
纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比,样品制备和测量极为简单。
结合专门为脉冲磁体设计的杜瓦以及各种不同的测量选件,可以轻松胜任高脉冲场下的电学、磁学和光学等学科的研究,是研究高脉冲场下材料物性的综合性大平台.