台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES

  美国easyXAFS公司推出台式X射线吸收精细结构谱仪，采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，以超高灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。此外，该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES)，该表征本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以对样品的局部电子结构实现信息互补。广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。

产品特点：

● ⽀持近边快扫功能；
● 不同样品、不同测量模式⼀键⾃动切换；
● ⽀持原位测试等扩展功能；
● 远程数据传输，实时显⽰实验进程和结果⽀持⽆⼈值守测试；
● ⼈体⼯学⾼度设计，操作更便捷；
● 专业的应⽤技术⽀持和数据分析⽀持；
● 内置专利软件，实验参数预置，实现快速测量；
● 仪器具有辐射豁免资质和多重安全防护联锁，保证⼈⾝和使⽤安全。