纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω

  日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。

产品特点：

1、在纳米尺度衡量薄膜的热导率：开发出监测周期加热过程中热反射带来的金属薄膜表面温度变化的方法。从而通过厚度方向上的一维热导模型计算出样品表面的温度变化，极为简便的衡量厚度方向上热导率。

2、样品制备简单：不需要光刻技术即可将金属薄膜（1.7mm×15mm×100nm）沉积在薄膜样品上。