扫描电镜专用原位AFM探测系统

  奥地利GETec公司发布的AFSEM是一款紧凑型，适用于真空环境的AFM（原子力显微镜）模块，能够轻松地将两种强大的分析技术— —AFM和SEM结合为一体，地扩展了SEM扫描电镜的样品成像和分析能力。AFSEM技术与SEM技术的结合，使得人们对微观世界和纳米世界新探索新发现成为可能。

产品特点：

• 扫描电镜中进行AFM原位分析

• 使用SCL的自感悬臂技术的纳米探针

• 无需激光和探测器，适用于任何样品表面

• 与大多数SEM兼容而不妨碍正常的操作

•  AFM和SEM协同并行分析