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碳纳米管和石墨烯性能表征系统
随着纳米技术的不断发展，碳纳米管和石墨烯的性能越来越受到科研人员的关注。然而，对于碳纳米管和石墨烯性能表征一直是困扰碳纳米管和石墨烯技术研究和应用的主要障碍。目前，碳纳米管和石墨烯测量方法是光谱测量技术。相对其他测量方法，该技术主要有以下的优点：较高灵敏度、较高测量精度。
产品特点：
较高灵敏度，即使碳纳米管和石墨烯的含量很低也能测量。
较高测量精度，对碳纳米管的（n,m）分辨率很高
对待测样品要求低，可直接分析含较多杂质的样品。
测量设备相对简单，准备待测样品非常容易。
数据处理简单，测量结果无需考虑背景减除。
荧光光谱测量：
可见区发射谱探测范围： 400-900nm
近红外发射谱探测范围： 900-1600nm
可选近红外发射谱探测范围： -2000nm
吸收谱测量：
紫外吸收谱探测范围： 210-450nm
可见吸收谱探测范围： 400-900nm
红外吸收谱探测范围： 900-1600nm
可选红外发射谱探测范围： -2000nm
拉曼光谱测量：
拉曼光谱探测范围： 150-3000cm-1
激发光源波长： 532和/或671nm
