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Lake Shore霍尔效应测试系统

  • 产品介绍
  • 性能参数

  8400系列霍尔效应测量系统结合了先进的交流和直流磁场霍尔效应测量方法,应用领域十分广泛。交流磁场测量选件非常适合测量传统直流场霍尔方法难以测量的新兴材料(迁移率低于1 cm2/Vs,包括半导体和电子材料,如光伏和热电材料、新兴的显示技术和有机电子材料等。通过不同测试选件,可以选择15 K至1273 K温度环境,测量0.5 µΩ~200 GΩ的电阻,确定载流子浓度和载流子迁移率与温度的关系等。


产品特点:

1、 可靠的精度及重现性:恒电流源(1nA~20mA)采用六级电流范围设置,将可以接收的误差降到最低;范德堡法则转换使用非接触装置有效降低仪器噪声;软硬件有针对性的设计,确保每个实验数据均为多次测试的平均值,使仪器拥有非常好的数据重现性。
2、 产品小型化及操作简单化:小尺寸的磁场强度输入系统使用永磁体和液氮低温测量系统(77K),确保仪器操作非常简单;两种不同尺寸的传统样品板(20*20mm、10*10mm)及带弹簧夹头的样品板(SPCB),使得不同尺寸不同材料的薄膜样品更容易测量,区别于传统样品板的弹簧夹片样品板使得霍尔电极制作更方便且对样品损伤更小。
3、 I-V曲线及I-R曲线测量:采用图表的方式,测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压及电流-电阻关系,并以此评判样品的欧姆接触好坏、了解样品的基本的电学特性。
4、 多样的实验结果:实验结果由软件自动计算得到,可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)、电阻的纵横比率(Vertical/Horizontal ratio of resistance)等等。

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